X射線(xiàn)工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x
簡(jiǎn)要描述：
Werth將X射線(xiàn)掃描成像技術(shù)整合到三坐標測量系統，WERTH X射線(xiàn)工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x可實(shí)現產(chǎn)品無(wú)損可視化準確測量，并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時(shí)可實(shí)現工件材質(zhì)的缺陷分析。
產(chǎn)品時(shí)間：2020-06-30
WERTH X射線(xiàn)工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x介紹：
德國Werth公司是將X射線(xiàn)掃描成像技術(shù)整合到三坐標測量系統，實(shí)現產(chǎn)品無(wú)損可視化準確測量，并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時(shí)可實(shí)現工件材質(zhì)的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時(shí)，保證了高品質(zhì)的要求。Werth工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x此機榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。
WERTH X射線(xiàn)工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x特點(diǎn)：
◆ 將X射線(xiàn)斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標測量系統，實(shí)現復雜部件高精度內外尺寸全面測量
◆ 可選配第二個(gè)Z軸，配置其他傳感器（光學(xué)、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術(shù)復合式傳感器技術(shù)，進(jìn)一步保證 CT測量數據更準確
◆ 堅固的花崗巖基座，保證機器具有高穩定性
◆ 高精密機械軸承技術(shù)及線(xiàn)性導軌系統，確保實(shí)現zui 高精度的測量
◆ 無(wú)論從設計還是結構，測量機*并超出X射線(xiàn)使用安全標準
◆ 基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構技術(shù)，測量速度更快
◆ Werth公司技術(shù)的X射線(xiàn)傳感器獨立校準系統
◆ Werth公司技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù)：
精密測量微小部件
掃描更大尺寸工件，提高分辨率
擴展測量范圍
◆ 測量軟件可快速3D重構，也可進(jìn)行2D測量
◆ 測量工件內部尺寸的同時(shí)，也可實(shí)現材質(zhì)缺陷分析
◆ 選用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長(cháng)度標準認證) ，界面友好，操作簡(jiǎn)單
◆ 可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
◆ 廣泛應用于復雜尺寸測量，*評估，逆向工程，質(zhì)量控制等
Werth工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x應用領(lǐng)域: 模具行業(yè)、逆向工程、汽車(chē)行業(yè)、航空航天、精密機械加工、船舶等。
WERTH X射線(xiàn)工業(yè)CT斷層掃描測量?jì)x技術(shù)參數：
| 型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
| zui大測量工件尺寸(直徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
| zui大測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
| zui大允許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| zui大允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
| (E2:平面精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
| (E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
| X射線(xiàn)源 | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可選) |
| X射線(xiàn)探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
| X射線(xiàn)探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
| 分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
| 定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
| 加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
| 工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
| 電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
| 氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
| 儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
